Die Ohm´sche Rastermikroskopie (SOM) wurde als neuartige Rastersondenmethode zur passiven, systemunabhängigen und flächendeckenden in situ-Detektion der primären Stromdichteverteilung an technischen Elektroden entwickelt. Kernprinzip der Methode ist die Erfassung des Spannungsabfalls im Elektrolyten oberhalb einer elektroaktiven Fläche mittels zweier Mikroreferenzelektroden. Prozesse wie Adsorptions- und Interkalationsreaktionen, die über etablierte Verfahren zumeist nicht visualisierbar sind, können mit einer hohen lateralen Auflösung materialselektiv dargestellt und über eine integrierte Scherkraftabstandsregulation (SF-Regulation) mit topographischen Daten korreliert werden. <dt.>
The scanning ohmic microscopy (SOM) was developed as a new scanning probe method for the passive and system independent in situ-imaging of the primary current distribution at technical electrodes. Core principle of SOM is the measurement of the potential drop between two microreference electrodes within the electrolyte above an electroactive sample. Processes like adsorption and intercalation reactions, which are mostly not visualizable by established techniques, can be recorded material selective with a high lateral resolution and correlated with topographical data by an integrated shear force distance control (SF-control). <engl.>
Electrochemical Society Journal of the Electrochemical Society Bristol : IOP Publishing, 1948 Bd. 164 (2017), 7, F873-F878, insges. 6 S. Online-Ressource
