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  49GBVUOB_ALMA5125336786000350149GBVUOB_ALMA51253367860003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA51253367860003501
  Artikel
  Simulation of probe misalignment effects during RF on-wafer probing

  von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow

  2016

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Hänßler, Olaf C.Fatikow, SergejKleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])

  Umfang: Diagramme.; 2.

  Enthalten in: International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Wave (41. : 2016 : Kopenhagen) 2016 41st International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) [Piscataway, NJ] : IEEE, 2016 2016, inges. 2 S. Online-Ressource

  Sprache: Englisch

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  49GBVUOB_ALMA5125336761000350149GBVUOB_ALMA51253367610003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA51253367610003501
  Artikel
  Automated calibration of RF on-wafer probing and evaluation of probe misalignment effects using a desktop micro-factory

  von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Tobias Tiemerding ; Patrick Elfert ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow

  2016

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Tiemerding, TobiasElfert, PatrickHänßler, Olaf C.Fatikow, SergejKleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])

  Umfang: Diagramme.

  Enthalten in: Journal of Computer and Communications Irvine, CA : Scientific Research Publishing, 2013 4(2016), Seite 61-67 Online-Ressource

  Sprache: Englisch

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