Zur Prüfung der Haftung von historisch wertvollen Wandmalereien erweist sich ein laser-optisches Schwingungsmessverfahren auf Basis der Elektronischen Specklemuster-Interferometrie (ESPI) als sehr leistungsfähig. Für deren Weiterentwicklung wird ein akustisches Anregungssystem im Audiobereich mit hoher Richtwirkung benötigt. Hierfür wurde ein parametrisches System aufgebaut, bei dem gerichteter Audioschall durch nichtlineare Effekte aus gerichtet abgestrahltem Ultraschall erzeugt wird. Zunächst zeigten dessen Schallfelder unerwartete Eigenschaften, deren Ursachen identifiziert und Lösungen zu ihrer Überwindung entwickelt wurden. Dafür war es notwendig, das 3D Ultraschallfeld vor dem Wandler zu kennen, wofür das ESPI-Messverfahren für die Untersuchung von Schallfeldern entsprechend erweitert wurde. Die Daten wurden zur gezielten Modifikation des Schallfeldes verwendet, um die gewünschte Richtwirkung zu erreichen. Die Eigenschaften des aufgebauten Parametrischen Systems werden diskutiert. <dt.>
To inspect the bonding of historically valuable wall paintings a laser-optical vibration measurement method based on Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) has proved quite powerful. Its further development requires an acoustic excitation system in the audio range of high directivity. A parametric acoustic system was built for this purpose, where highly directional audio sound is produced by nonlinear effects from directionally radiated ultrasound. Initially, these sound fields showed unexpected properties. Their causes were identified and solutions to overcome them were developed. For this purpose it was necessary to know the 3D ultrasonic field in front of the transducer array. The ESPI-measuring method was enhanced accordingly for the investigation of sound fields. The results were used to specifically modify the ultrasonic field to obtain the desired high directivity in the audio range. The characteristics of the final parametric system are discussed. <engl.>
Optics for the quality of life / 19th Congress of the International Commission for Optics, 25 - 30 August, Firenze, Italy Bellingham, Wash., 2003 S. 85 - 86
