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nach Person:
Fatikow, Sergej (1)
Gaudet, Matthieu (1)
Hänßler, Olaf C (1)
Mead, James L (1)
1
49GBVUOB_ALMA51352650020003501
49GBVUOB_ALMA51352650020003501
//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA51352650020003501
Artikel
Evaluation of the systematic error for scanning microwave microscopy following an in-situ broadband calibration procedure
von
Matthieu Gaudet ; James L. Mead ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow
2022
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg):
Mead, James L. ([2020-])
Hänßler, Olaf C.
Fatikow, Sergej
Gaudet, Matthieu
Umfang:
3.
Enthalten in:
2022 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization [Piscataway, NJ] : IEEE, 2022 2022, insgesamt 3 Seiten
Sprache:
Englisch
>> Volltext
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