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  49GBVUOB_ALMA2123695096000350149GBVUOB_ALMA21236950960003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236950960003501
  Artikel
  Numerical modelling as a tool for understanding room temperature photoluminescence in a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells

  von Gottfried H. Bauer ; Rudolf Brüggemann ; Maximilian Rösch ; Saioa Tardon ; Thomas Unold

  2004

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, RudolfRösch, MaximilianTardon, SaioaUnold, Thomas ([-2003])Bauer, Gottfried H.

  Enthalten in: Physica status solidi / C 1 (2004), S. 1308 - 1315

  Sprache: Englisch

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• 92
  49GBVUOB_ALMA2123701200000350149GBVUOB_ALMA21237012000003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21237012000003501
  Artikel
  Porous thin films grown by size-selected Si-nanoparticles

  von Felix Voigt ; Rudolf Brüggemann ; Friedrich Huisken ; Gottfried H. Bauer

  2004

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, RudolfBauer, Gottfried H.Voigt, Felix

  Enthalten in: Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft / Reihe 6 39,2 (2004), DS 14.7 <1>

  Sprache: Englisch
• 93
  49GBVUOB_ALMA2123685958000350149GBVUOB_ALMA21236859580003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236859580003501
  Artikel
  Photoluminescence studies of a -Si:H/c-Si-heterojunction solar cells

  von Saioa Tardon ; Maximilian Rösch ; Rudolf Brüggemann ; Thomas Unold ; Gottfried H. Bauer

  2004

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Rösch, MaximilianBrüggemann, RudolfUnold, Thomas ([-2003])Bauer, Gottfried H.Tardon, Saioa

  Enthalten in: Journal of non-crystalline solids 338/340 (2004), S. 444 - 447

  Sprache: Englisch

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• 94
  49GBVUOB_ALMA2123683909000350149GBVUOB_ALMA21236839090003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236839090003501
  Artikel
  Determination of the upper limit of V oc and identification of recombination losses in Cu(in 1-X GA 2)Se 2 by room temperature photoluminescence

  von Gottfried H. Bauer ; Rudolf Brüggemann ; Robert Kniese ; S. Vignoli

  2004

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, RudolfBauer, Gottfried H.

  Enthalten in: 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference München, 2004 (2), S. 1851 - 1854

  Sprache: Englisch

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• 95
  49GBVUOB_ALMA2123650715000350149GBVUOB_ALMA21236507150003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236507150003501
  Artikel
  Parameters for photoelectronic characterisation and the Fermi level in amorphous silicon

  von Rudolf Brüggemann

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Thin solid films 427 (2003), S. 355 - 357

  Sprache: Englisch

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• 96
  49GBVUOB_ALMA7123681938000350149GBVUOB_ALMA71236819380003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA71236819380003501
  Artikel
  Photoconductivity studies of n-type hydrogenated amorphous silicon and microcrystalline silicon

  von Rudolf Brüggemann

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics 14 (2003), S. 629 - 633

  Sprache: Englisch

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• 97
  49GBVUOB_ALMA2123685854000350149GBVUOB_ALMA21236858540003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236858540003501
  Artikel
  Steady-state photocarrier grating technique for the determination of the minority-carrier diffusion length in microcrystalline silicon

  von Rudolf Brüggemann ; Oliver Kunz

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft 38 (2003), 5

  Sprache: Englisch
• 98
  49GBVUOB_ALMA2123650003000350149GBVUOB_ALMA21236500030003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236500030003501
  Artikel
  Depth profiling of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by transient photocurrent spectroscopy

  von Steve Reynolds ; Charles Main ; Rudolf Brüggemann

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Materials Research Society symposia proceedings 762 (2003), S. 13,1 - 13,6 <6>

  Sprache: Englisch

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• 99
  49GBVUOB_ALMA2123650645000350149GBVUOB_ALMA21236506450003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236506450003501
  Artikel
  Thickness dependence of optical scattering and surface roughness in microcrystalline silicon

  von Rudolf Brüggemann ; Peter Reinig ; M. Hölling

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Thin solid films 427 (2003), S. 358 - 361

  Sprache: Englisch

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• 100
  49GBVUOB_ALMA2123619594000350149GBVUOB_ALMA21236195940003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA21236195940003501
  Artikel
  Spatial and energetic profiling of defects in thin-film silicon

  von Steve Reynolds ; Charles Main ; Rudolf Brüggemann

  2003

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Brüggemann, Rudolf

  Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics 14 (2003), S. 615 - 519

  Sprache: Englisch

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