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Suche nach: Person (Universität Oldenburg) = 'Sievers, Torsten ((DE-588)132957000)'

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Artikel
Real-time object tracking inside an SEM
von Torsten Sievers
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Sievers, Torsten
Enthalten in: Automated nanohandling by microrobots London, 2008 S. [103] - 128
Sprache: Englisch
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Artikel
Development and control of a versatile nanohandling robot cell
von Sergej Fatikow ; Volkmar Eichhorn ; Christian Stolle ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Eichhorn, Volkmar ([2005-])Stolle, Christian ([2006-])Sievers, TorstenJähnisch, MarcoFatikow, Sergej
Enthalten in: Mechatronics 18 (2008), 7, S. 370 - 380
Sprache: Englisch
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Artikel
Depth-detection methods for microgripper based CNT manipulation in a scanning electron microscope
von Volkmar Eichhorn ; Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Christian Dahmen ; Torsten Sievers ; Karin Nordström Andersen ; Kenneth Carlson ; Peter Bøggild
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Fatikow, SergejWich, ThomasDahmen, ChristianSievers, TorstenEichhorn, Volkmar ([2005-])
Enthalten in: Journal of micro-nano mechatronics 4 (2008), 1/2, S. 27 - 36
Sprache: Englisch
4
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Artikel
Automatic nanohandling station inside a scanning electron microscope
von Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Iulian Mircea ; Helge Hülsen ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch ; Volkmar Eichhorn
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Wich, ThomasMircea, IulianHülsen, HelgeSievers, TorstenJähnisch, MarcoEichhorn, Volkmar ([2005-])Fatikow, Sergej
Enthalten in: Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers / Part B, Journal of engineering manufacture 222 (2008), S. 117 - 128
Sprache: Englisch
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Buch
Echtzeit-Objektverfolgung im Rasterelektronenmikroskop
von Torsten Sievers
2007
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Sievers, Torsten
Umfang: III, 177 S. Ill., graph. Darst. 21 cm.
Weitere Angaben:
Zsfassung in dt. und engl. Sprache ; Oldenburg, Univ., Diss., 2007
Schlagwörter: HochschulschriftObjektverfolgungRasterelektronenmikroskopieBildverarbeitungBildinformatikElektronenmikroskopieRastermikroskopieRastertunnelmikroskopieOrtung
Notation: inf 999inf 829
Sprache: Deutsch
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Artikel
Microrobot system for automatic nanohandling inside a scanning electron microscope
von Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Helge Hülsen ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch
2007
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Wich, ThomasHülsen, HelgeSievers, TorstenJähnisch, MarcoFatikow, Sergej
Enthalten in: IEEE-ASME transactions on mechatronics 12 (2007), 3, S. 244 - 252
Sprache: Englisch
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Artikel
Depth-detection methods for CNT manipulation and characterization in a scanning electron microscope
von Sergej Fatikow ; Volkmar Eichhorn ; Thomas Wich ; Torsten Sievers ; Olaf C. Hänßler ; Karin N. Andersen
2007
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Eichhorn, Volkmar ([2005-])Wich, ThomasSievers, TorstenHänßler, Olaf C.Fatikow, Sergej
Enthalten in: International Conference on Mechatronics and Automation, 2007, ICMA 2007, 5- 8 Aug. 2007, Harbin, China Piscataway, 2007
Sprache: Englisch
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Artikel
Global sensor feedback for automatic nanohandling inside a scanning electron microscope
von Torsten Sievers
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Sievers, Torsten
Enthalten in: Intelligent production machines and systems Amsterdam [u.a.], 2006 S. 289 - 294
Sprache: Englisch
9
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Artikel
Real-time object tracking for the robot-based nanohandling in a scanning electron microscope
von Torsten Sievers ; Sergej Fatikow
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Fatikow, SergejSievers, Torsten
Enthalten in: Journal of micromechatronics 3 (2006), 3-4, S. 267 - 284
Sprache: Englisch
10
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Artikel
Vision feedback in an automatic nanohandling station inside an SEM
von Torsten Sievers ; Marco Jähnisch ; Christian Schrader ; Sergej Fatikow
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, MarcoFatikow, SergejSievers, Torsten
Enthalten in: Optomechatronic micro/nano devices and components II Bellingham, Wash., 2006 12 S. <12>
Sprache: Englisch