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Suche nach: Person = 'Kleist-Retzow, Fabian T. von'

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Artikel
Forced wetting by ion implantation for liquid nanoelectronics
von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Sergej Fatikow
2022
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Fatikow, SergejKleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])
Umfang: 6.
Enthalten in: MARSS (5. : 2022 : Toronto) Proceedings of MARSS 2022 [Piscataway, NJ] : IEEE, 2022 2022, insgesamt 6 Seiten 1 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Line tension and drop size dependence of contact angle at the nanoscale
von Waldemar Klauser ; Fabian T. von Kleist-Retzow ; Sergej Fatikow
2022
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])Fatikow, SergejKlauser, Waldemar ([2015-])
Enthalten in: Nanomaterials Basel : MDPI, 2011 12(2022), 3, Artikel-ID 369, Seite 1-8 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Advances in assembled micro-and nanoscale mechanical contact probes
von James L. Mead ; Waldemar Klauser ; Fabian T. von Kleist-Retzow ; Sergej Fatikow
2022
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Klauser, Waldemar ([2015-])Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])Fatikow, SergejMead, James L. ([2020-])
Enthalten in: Frontiers in mechanical engineering Lausanne : Frontiers Media, 2015 87(2022), Artikel-ID 983334, Seite 1-22 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Buch
Robotic liquid metal manipulation and electrical contact probing at small scales
von Fabian T. von Kleist-Retzow
1. Auflage, 2021
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ISBN: 97838439482893843948283
Akademischer Betr.: Sergej Fatikow; Pierre Lambert
Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])
Verlag: München: Dr. Hut
Umfang: xviii, 180 Seiten Illustrationen, Diagramme 27.8 cm x 19.8 cm, 602 g.
Weitere Angaben:
Literaturverzeichnis: Seite 157-170 ; Dissertation Carl von Ossietzky Universität Oldenburg 2021
Schlagwörter: Hochschulschrift
Notation: che 999che 256.1 i
Sprache: Englisch
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Artikel
Probing friction and adhesion of individual nanoplastic particles
von Sören Zimmermann ; James L. Mead ; Fabian T. von Kleist-Retzow
2020
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Mead, James L. ([2020-])Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])Zimmermann, Sören ([2011-])
Umfang: Diagramme.
Enthalten in: The journal of physical chemistry. C, Energy, materials, and catalysis Washington, DC : Soc., 2007 124(2020), 44, Seite 24145-24155 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Assessing micro- and nanoscale adhesion via liquid metal-based contact angle measurements in vacuum
von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Waldemar Klauser ; Sören Zimmermann ; Sergej Fatikow
2020
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Klauser, Waldemar ([2015-])Zimmermann, Sören ([2011-])Fatikow, SergejKleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])
Umfang: Diagramme.
Enthalten in: Journal of materials science Dordrecht [u.a.] : Springer Science + Business Media B.V, 1966 55(2020), 9, Seite 4073-4080 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Liquid metal-based manipulator for microscale handling inside SEM
von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Malte Bartenwerfer ; Sergej Fatikow
2019
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Bartenwerfer, MalteFatikow, Sergej
Umfang: Illustrationen.
Enthalten in: IEEE-NEMS (14. : 2019 : Bangkok) IEEE-NEMS 2019 [Piscataway, NJ] : IEEE, 2019 (2019), Seite 332-335 1 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Multi-target tracking for automated RF on-wafer probing based on template matching
von Hai Li ; Fabian T. von Kleist-Retzow ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow ; Xianmin Zhang
2019
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])Hänßler, Olaf C.Fatikow, Sergej
Umfang: Diagramme.; 6.
Enthalten in: MARSS (Veranstaltung : 4. : 2019 : Espoo) Proceedings of MARSS 2019 [Piscataway, NJ] : IEEE, 2019 2019, insgesamt 6 Seiten 1 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
Manipulation of liquid metal inside an SEM by taking advantage of electromigration
von Fabian T. von Kleist-Retzow ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow
2018
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Hänßler, Olaf C.Fatikow, SergejKleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])
Weitere Angaben:
Date of Publication: 06 November 2018
Enthalten in: Journal of microelectromechanical systems New York, NY : IEEE, 1992 28(2019), 1, Seite 88-94 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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Artikel
RF wafer probing with improved contact repeatability using nanometer positioning
von Khadim Daffé ; Gilles Dambrine ; Fabian T. von Kleist-Retzow ; Kamel Haddadi
2016
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Kleist-Retzow, Fabian T. von ([2015-])
Umfang: Diagramme.; 4.
Enthalten in: ARFTG Microwave Measurement Conference (87. : 2016 : San Fransisco, Calif.) Measurements for emerging communications technologies [Piscataway, NJ] : IEEE, 2016 2016, insges. 4 S. 1 Online-Ressource
Sprache: Englisch
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