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Suche nach: Person = 'Jähnisch, Marco'

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Artikel
Nanohandling automation as an emerging industrial technology
von Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Christian Dahmen
2009
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Fatikow, Sergej
Enthalten in: 2009 IEEE International Conference on Industrial Technology ; [2] Piscataway, NJ : IEEE, 2009 (2009), Seite 990-995 S. 506 - 1007
Sprache: Englisch
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Artikel
3D imaging system for SEM
von Marco Jähnisch
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, Marco
Enthalten in: Automated nanohandling by microrobots London, 2008 S. [129] - 165
Sprache: Englisch
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Buch
Technische Informatik: 3D-Bildsystem für die Nanohandhabung im Rasterelektronenmikroskop
von Marco Jähnisch
2008
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ISBN: 9783832276294
Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, Marco
Verlag: Aachen: Shaker
Umfang: XII, 163 S..
Weitere Angaben:
Zugl.: Oldenburg, Univ., Diss., 2008
Schlagwörter: HochschulschriftNanotechnologieMontageManipulatorRasterelektronenmikroskopStereoskopieDreidimensionale BildverarbeitungBildverarbeitungElektronenmikroskopRastermikroskopHandhabungsgerätIndustrieroboterFertigungBestückenMikromechanikNanowissenschaften
Übergeordnetes Werk: Technische Informatik
Verknüpfte Titel: Technische Informatik
Notation: inf 847
Sprache: Deutsch
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Artikel
Development and control of a versatile nanohandling robot cell
von Sergej Fatikow ; Volkmar Eichhorn ; Christian Stolle ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Eichhorn, Volkmar ([2005-])Stolle, Christian ([2006-])Sievers, TorstenJähnisch, MarcoFatikow, Sergej
Enthalten in: Mechatronics 18 (2008), 7, S. 370 - 380
Sprache: Englisch
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Artikel
Automatic nanohandling station inside a scanning electron microscope
von Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Iulian Mircea ; Helge Hülsen ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch ; Volkmar Eichhorn
2008
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Wich, ThomasMircea, IulianHülsen, HelgeSievers, TorstenJähnisch, MarcoEichhorn, Volkmar ([2005-])Fatikow, Sergej
Enthalten in: Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers / Part B, Journal of engineering manufacture 222 (2008), S. 117 - 128
Sprache: Englisch
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Artikel
3D vision feedback for nanohandling monitoring in a scanning electron microscope
von Marco Jähnisch ; Sergej Fatikow
2007
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Fatikow, SergejJähnisch, Marco
Enthalten in: International journal of optomechatronics (2007)
Sprache: Englisch
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Artikel
Microrobot system for automatic nanohandling inside a scanning electron microscope
von Sergej Fatikow ; Thomas Wich ; Helge Hülsen ; Torsten Sievers ; Marco Jähnisch
2007
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Wich, ThomasHülsen, HelgeSievers, TorstenJähnisch, MarcoFatikow, Sergej
Enthalten in: IEEE-ASME transactions on mechatronics 12 (2007), 3, S. 244 - 252
Sprache: Englisch
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Artikel
Stereoscopic depth-detection for handling and manipulation tasks in a scanning electron microscope
von Marco Jähnisch ; Marc Schiffner
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, Marco
Enthalten in: Proceedings / 2006 IEEE International Conference on Robotics and Automation Piscataway, N.J., 2006 S. 908 - 913
Sprache: Englisch
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Artikel
Depth-detection for manipulation tasks in a scanning electron microscope
von Marco Jähnisch ; Marc Schiffner
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, Marco
Enthalten in: 8th International IFAK Symposium on Robot Control (SYROCO), Bologna, 2006 2006
Sprache: Englisch
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Artikel
Vision feedback in an automatic nanohandling station inside an SEM
von Torsten Sievers ; Marco Jähnisch ; Christian Schrader ; Sergej Fatikow
2006
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Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Jähnisch, MarcoFatikow, SergejSievers, Torsten
Enthalten in: Optomechatronic micro/nano devices and components II Bellingham, Wash., 2006 12 S. <12>
Sprache: Englisch