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  49GBVUOB_ALMA5135265002000350149GBVUOB_ALMA51352650020003501//diglib.bis.uni-oldenburg.de/webservice/sru/?recordSchema=dc&query=49GBVUOB_ALMA51352650020003501
  Artikel
  Evaluation of the systematic error for scanning microwave microscopy following an in-situ broadband calibration procedure

  von Matthieu Gaudet ; James L. Mead ; Olaf C. Hänßler ; Sergej Fatikow

  2022

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  Beteiligte Personen (Uni Oldenburg): Mead, James L. ([2020-])Hänßler, Olaf C.Fatikow, SergejGaudet, Matthieu

  Umfang: 3.

  Enthalten in: IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (2022 : Limoges) 2022 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization [Piscataway, NJ] : IEEE, 2022 2022, insgesamt 3 Seiten 1 Online-Ressource

  Sprache: Englisch

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